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直拉硅晶体中的氢杂质一般是故意引入,一般没有电学性质。
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直拉硅晶体中的氢杂质一般是故意引入,一般没有电学性质。
A.正确
B.错误
正确答案:正确
Tag:
半导体材料
电学
杂质
时间:2022-02-17 21:10:48
上一篇:
直拉晶体的掺杂技术有共熔法和投杂法。
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氢可以钝化硅晶体中的氧沉淀、位错和金属杂质。
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直拉硅晶体过程中会引入各种杂质,有些杂质对材料有害,有些杂质对材料有益。
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以下对于直拉硅晶体中的碳杂质描述错误的是()
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以下对于直拉硅晶体中的氧杂质描述错误的是()
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以下对于重掺磷技术的难点描述错误的是()
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直拉硅单晶的发展呈现大尺寸大直径的趋势,单晶炉也逐渐发展变大。
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可以通过晶锭外侧的生产条纹和小平面来判断晶体的位错状态。
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在直拉硅晶体时最后的收尾是为了防止位错反延。
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掺锗、氮,重掺硼的籽晶具有高强度。
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Dash缩颈成功生长了无位错直拉硅,但是使得一次拉出来的晶体长度受限。
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以下对于直拉生长描述错误的是()
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在直拉硅生长过程中,熔体出现对流,以下对于对流的描述错误的是()
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不可能存在于直拉硅中的杂质和缺陷有()
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熔区次数的选择可以根据经验公式得到:n=(1~1.5)L/l
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区熔可以重复多次,使杂质尽量被集中在头尾两端,提纯中部的材料,且熔区越长越好。
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区熔硅可以在气氛中含氮来抑制微缺陷,增加机械强度。
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区熔的熔区移动速度越小,提纯效果越好。
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区熔提纯利用分凝原理。
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硅烷法的成本低,但是安全性差。
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硅的化学提纯技术的区别主要是中间化合物不同,西门子法是最常用的方法。