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可以通过晶锭外侧的生产条纹和小平面来判断晶体的位错状态。
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可以通过晶锭外侧的生产条纹和小平面来判断晶体的位错状态。
A.正确
B.错误
正确答案：正确
Tag：
半导体材料
条纹
晶体
时间：2022-02-17 21:10:43
上一篇：
在直拉硅晶体时最后的收尾是为了防止位错反延。
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直拉硅单晶的发展呈现大尺寸大直径的趋势，单晶炉也逐渐发展变大。
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掺锗、氮，重掺硼的籽晶具有高强度。
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Dash缩颈成功生长了无位错直拉硅，但是使得一次拉出来的晶体长度受限。
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以下对于直拉生长描述错误的是（）
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在直拉硅生长过程中，熔体出现对流，以下对于对流的描述错误的是（）
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不可能存在于直拉硅中的杂质和缺陷有（）
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熔区次数的选择可以根据经验公式得到：n=(1~1.5)L/l
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区熔可以重复多次，使杂质尽量被集中在头尾两端，提纯中部的材料，且熔区越长越好。
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区熔的熔区移动速度越小，提纯效果越好。
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区熔提纯利用分凝原理。
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