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AFM的探针针尖与样品表面直接接触，所以测量时会损伤样品。
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AFM的探针针尖与样品表面直接接触，所以测量时会损伤样品。
A.正确
B.错误
正确答案：B
Tag：
半导体技术导论
样品
针尖
时间：2021-10-02 21:22:37
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TME可观测厚度1微米以上的样品。
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AFM可观测样品内部形貌特征。
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