采用激光偏振检测系统可确定硅片表面疵病的性质,即区分疵病是划痕、裂痕、麻点、灰尘、油污膜层或其他缺陷。


采用激光偏振检测系统可确定硅片表面疵病的性质,即区分疵病是划痕、裂痕、麻点、灰尘、油污膜层或其他缺陷。

A.正确

B.错误

正确答案:正确


Tag:光电检测技术与系统 麻点 偏振 时间:2024-01-04 19:41:25