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单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
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知识竞赛未分类
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
A.近场干扰
B.材质衰减
C.盲区
D.折射
正确答案：C
Tag：
钢结构焊缝质量检测
盲区
检出
时间：2023-04-14 21:38:23
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放大器的不饱和信号高度与缺陷面积成比例的范围叫做放大器的：（）
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